半导体光电器件检测标准明细

半导体光电器件检测项目有哪些?半导体光电器件检测报告如何办理?检测标准方法是什么？百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。

检测报告图片

低温存储试验、冷热冲击试验、微米级长度测量、温度偏置寿命试验、温度偏置寿命试验（脉冲）、温度循环偏置试验、温度循环试验、温湿度偏压寿命试验、温湿度存储试验、高温存储试验

1、JESD22-A103E (October 2015) 高温存储试验

2、JESD22-A105C; Method A、 B (Jan 2004) 温度循环偏置试验

3、IEC 60068-2-1 (Edition 6.0 2007-03) 环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

4、JESD22-A106B.01 (Nov 2016) 冷热冲击试验

5、JESD22-A104E(Oct 2014) 温度循环试验

6、JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015) 低温存储试验 JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)

7、JESD22-A101D (July 2015) 温湿度偏压寿命试验

8、JESD22-A108F (Jul 2017) 温度、偏置和寿命试验

9、IEC 60068-2-67 (Edition 1.0 1995-12) 环境试验 第2-67部分:试验方法 试验Cy:稳态湿热加速试验(主要用于部件)

10、GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则

11、JESD 22-A101D 温湿度存储试验 JESD22-A101D (July 2015)

12、IEC60069-2-2 第5版 2007-07 环境试验方法 2-2部分 试验B：高温

13、IEC 60068-2-14; Test N (Edition 6.0 2009-01) 冷热冲击试验

以上内容为部分列举，仅供参考。如果您对半导体光电器件检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

检测流程