电子电气产品及元器件检测标准明细

电子电气产品及元器件检测项目有哪些?电子电气产品及元器件检测报告如何办理?检测标准方法是什么？百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。

检测报告图片

低气压试验、低温试验、冲击、恒定加速度、振动试验、温度冲击试验、温度冲击试验（液态）、温度循环、盐雾试验、稳态湿热、耐湿试验、高温试验、温度循环（空气-空气）、电子元器件（寿命试验）

1、GJB 360A-1996 《电子及电气元件试验方法》 方法105

2、GB/T 2423.2-2008 《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温》 GB/T 2423.2-2008

3、GJB 548B-1996 《微电子器件试验方法和程序》 方法2002.1

4、GB/T 2423.50-2012 《环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy：恒定湿热》

5、GJB 1032-1990 《电子产品环境应力筛选方法》 GJB 1032-1990

6、GJB 63C-2015 《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB63C-2015

7、GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997

8、GJB 5440-2005 《过载传感器通用规范》 GJB 5440-2005

9、GJB 1648A-2011 《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011

10、GJB 733B-2011 《有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB733B-2011

11、GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》 方法1001

12、GB/T 2423.21-2008 《电工电子产品基本环境试验规程 试验M：低气压试验方法》

13、GB/T 2423.2-2008 《电工电子产品环境试验 》

14、GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》 方法1011.1

15、GJB 1648A-2011 《晶体振荡器通用规范》 3.6.40

16、GJB 360B-1996 《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-1996

17、GB/T 4937.12-2018 《半导体器件机械和气候试验方法》第12部分：扫频振动 GB/T 4937.12-2018

18、GB/T 2423.22-2012 《环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化》 GB/T 2423.22-2012

19、GB/T 4937.4-2012 《半导体器件机械和气候试验方法》第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） /

20、GJB 360A-199 《电子及电气元件试验方法 》 GJB 360A-1996

以上内容为部分列举，仅供参考。如果您对电子电气产品及元器件检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

检测流程