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1、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

2、GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法 2.6

3、GB/T 17574-1998 《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇》 GB/T 17574-1998

4、GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 条款2.6

5、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第III篇第6节 5.1.1

6、GB/T14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法 5.6

7、GB/T17574-1998 第Ⅳ篇/第2节/2 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇/第2节2

8、GB/T14028-2018/ 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 5.4

9、GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018

10、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

11、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

12、SJ/T 10741-2000（CMOS） 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 条款5.15

13、GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992

14、SJ/T10741-2000 5.9 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

15、SJ/T10741-2000 5.10 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

16、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇/第2节4

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