复杂可编程逻辑器件检测检验单位

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1、GB/T 17574-1998 《半导体集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998

2、GB/T 17574-1998 《半导体集成电路 第2部分：数字集成电路》 /第IV篇、第3节、4.1

3、GB/T17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV.3.4.1.2

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