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半导体二极管(稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管)检测认证报告

2023-08-15  |  来源:互联网 78浏览
摘要:半导体二极管(稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管)检测测试哪些指标?检测报告如何办理?检测费用多少?检测周期多久呢?百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。
目录

半导体二*管(稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二*管)检测哪些项目?检测周期多久呢?检测报告如何办理?测试方法有哪些?报告有效期多久呢?做检测,找百检!

报告范例

检测报告

检测项目:

二*管特性曲线、低温测试、反向恢复时间、反向漏电流、密封、微分电阻Rz、浪涌电流、电耐久性试验、瞬态热阻、稳态热阻Rja、Rjc、箝位电压、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、高温反偏试验、高温测试、高温寿命

检测标准:

1、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管 GB/T 6571-1995

2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

3、GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二*管 GB/T4023-2015

4、JESD51-14-2010 半导体器件结到外壳热阻瞬态双界面测试方法

5、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4023

6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

7、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管 第Ⅳ章第1节4.2.3、4.2.4

8、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 112

9、MIL-STD- 750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F

10、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1014.2

11、GB/T 2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封

12、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009

13、GB/T4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二*管 7.1.2、7.1.4

14、MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 3101.4

检测报告用途

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

检测报告有效期

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新,测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台,一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

检测费用价格

因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程

检测流程