半导体二极管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管）检测怎么做？

半导体二*管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二*管）检测项目有哪些?半导体二*管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二*管）检测报告如何办理?检测标准方法是什么？百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。

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检测项目参考如下：

二*管特性曲线、低温测试、反向恢复时间、反向漏电流、密封、微分电阻Rz、浪涌电流、电耐久性试验、瞬态热阻、稳态热阻R_ja、R_jc、箝位电压、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、高温反偏试验、高温测试、高温寿命

检测标准方法汇总：

1、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号（包括开关）和调整二*管 GB/T 6571-1995

2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

3、GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二*管 GB/T4023-2015

4、JESD51-14-2010 半导体器件结到外壳热阻瞬态双界面测试方法

5、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4023

6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

7、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号（包括开关）和调整二*管 第Ⅳ章第1节4.2.3、4.2.4

8、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 112

9、MIL-STD- 750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F

10、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1014.2

11、GB/T 2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q：密封

12、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009

13、GB/T4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二*管 7.1.2、7.1.4

14、MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 3101.4

以上内容为部分列举，仅供参考。如果您对半导体二*管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二*管）检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

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