**电子元器件（破坏性物理分析）检测费用查询

**电子元器件（破坏性物理分析）检测测试哪些项目？检测周期多久呢？检测费用是多少？检测报告如何办理？报告有效期多久呢？百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

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X射线检查、内部目检、制样镜检、声学扫描显微镜检查、外部目检、密封、引出端强度、扫描电子显微镜（SEM）检查、玻璃钝化层完整性检查、粒子碰撞噪声检测、芯片剪切强度、键合强度、内部气体成份分析、扫描电子显微镜检查、玻璃钝化层的完整性检查、芯片粘接的超声检测

1、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 方法209

2、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析

3、GJB4027A-2006 扫描电子显微镜检查

4、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 4.6.3

5、GJB360A-1996 X射线检查

6、SJ 20527-1995 微波组件总规范 4.8.1

7、GJB 5914-2006 各种质量等级**半导体器件破坏性物理分析方法

8、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法2077

9、SJ20527A-2003 外部目检

10、GJB360B-2009 X射线检查

11、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2030

12、GJB548B-2005 扫描电子显微镜检查

13、GJB 8481-2015 微波组件通用规范 4.11.3

14、GJB-4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析

15、GJB 4152A-2014 多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法

16、GJB128A-1997 扫描电子显微镜检查

17、SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范 4.10.11

18、GJB548A-1996 外部目检

19、GJB91**-1997 外部目检

20、GJB 91**-1997 纤维光学试验方法 方法401

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一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

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