半导体可控硅检测项目参考

半导体可控硅检测项目有哪些?半导体可控硅检测报告如何办理?检测标准方法是什么？百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。

检测报告图片

低温测试、反向峰值电流I_RRM、擎住电流I_L、断态峰值电流I_DRM、维持电流I_H、通态峰值电压V_TM、通态斜率电阻R_t、门*触发直流电压V_GT、门*触发直流电流I_GT、高温反偏试验、高温测试

1、GB/T15291-2015 半导体器件 第 第6部分 晶闸管 9.1.2、9.1.3、 9.1.4、 9.1.5、 9.1.6、 9.1.7

2、GB/T 15291-2015 半导体器件 第 第6部分 晶闸管 GB/T15291-2015

3、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 1040

以上内容为部分列举，仅供参考。如果您对半导体可控硅检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

检测流程